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LuphoScan泰勒非接觸3D非球面光學輪廓儀 LUPHO Scan 120、260、420的三種型號可以通過被測零件的尺寸和可選功能進行選擇。LuphoScan測量平臺是一款基于多波長干涉技術(shù)（MWLI）的干涉式掃描測量系統(tǒng)。LUPHO Scan是基于MWLI方法技術(shù)（多波長干涉儀）的測量設(shè)備。 -
Luphoscan輪廓儀 LuphoScan測量平臺是一款基于多波長干涉技術(shù)（MWLI）的干涉式掃描測量系統(tǒng)。 它專為旋轉(zhuǎn)對稱表面的超精密非接觸式3D形狀測量而設(shè)計， 例如非球面光學透鏡。該系統(tǒng)能為高質(zhì)量的光學表面3D形狀測量提供**效益。LuphoScan量測平臺是一款利用多波長干涉技術(shù)（MWLI）的干涉式掃描量測系統(tǒng) -
form talysurf pgi 2540型粗糙度輪廓儀 Talysurf PGI 2540該系統(tǒng)具有***的高分辨率0.2nm（納米），因而成為當今市場上具有*高傳感器分辨率的表面形貌精密測量儀器。PGI 2540是一種適用于光學工業(yè)的超精密表面形貌測量儀，該系統(tǒng)具有25mm的大量程且相應分辨率僅為0.4nm（納米）。 -
泰勒霍普森輪廓儀Talysurf PGI Dimension GI Dimension把高精度、多功能測量與全自動控制*地結(jié)合在一起.光學三維的PGI提供了必要的靈活性，擁有測量近乎垂直角度的能力 -
talysurf cci 2000泰勒輪廓儀經(jīng)銷商 Talysurf CCI三維非接觸形貌儀采用CCI干涉原理，可高精度測量表面形貌、表面粗糙度及關(guān)鍵尺寸，并計算關(guān)鍵部位的面積和體積。主要應用于數(shù)據(jù)存儲器件，半導體器件，光學加工以及MEMS/MOEMS技術(shù)以及材料分析領(lǐng)域。CCI2000 采用了良好的白光干涉技術(shù)。 -
日本美能達CR-400色差儀售后完善 CR-400美能達色差儀主要的改進重點是提高可用性和功能，例如重新設(shè)計的數(shù)據(jù)處理器，具有用于測量數(shù)據(jù)的數(shù)字或圖形顯示的大型背光顯示器和內(nèi)置的熱高速打印機。 數(shù)據(jù)存儲器現(xiàn)在可以存儲多達100個目標顏色和1,000個測量。
